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簡(jiǎn)要描述：BSD-PM系列比表面及微孔分析儀在低溫（如：液氮浴，77.3K）條件下，向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（如：N2），通過(guò)控制樣品管中的平衡壓力直接測(cè)得吸附分壓，通過(guò)氣體狀態(tài)方程（PV=nRT）得到該分壓點(diǎn)的吸附量；通過(guò)逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸附等溫線(xiàn)；通過(guò)逐漸抽出吸附質(zhì)氣體降低吸附平衡壓力，得到脫附等溫線(xiàn)；相對(duì)動(dòng)態(tài)法，無(wú)需載氣（He），無(wú)需液氮杯反復(fù)升降；
產(chǎn)品型號(hào)：廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2023-09-09訪(fǎng) 問(wèn) 量：3071產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
BSD-PM系列比表面及微孔分析儀
測(cè)試原理：
在低溫（如：液氮浴，77.3K）條件下，向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（如：N2），通過(guò)控制樣品管中的平衡壓力直接測(cè)得吸附分壓，通過(guò)氣體狀態(tài)方程(PV=nRT)得到該分壓點(diǎn)的吸附量；通過(guò)逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸附等溫線(xiàn)；通過(guò)逐漸抽出吸附質(zhì)氣體降低吸附平衡壓力，得到脫附等溫線(xiàn)；相對(duì)動(dòng)態(tài)法，無(wú)需載氣（He），無(wú)需液氮杯反復(fù)升降；由于待測(cè)樣品是在固定容積的樣品管中，吸附質(zhì)相對(duì)動(dòng)態(tài)色譜法不流動(dòng)，故叫靜態(tài)容量法；
BSD-PM系列比表面及微孔分析儀
測(cè)試?yán)碚摚?/span>
吸附、脫附等溫線(xiàn)測(cè)定 BET比表面測(cè)定(單點(diǎn)/多點(diǎn)法)；
朗格繆爾(Langmuir)比表面 統(tǒng)計(jì)吸附層厚度法外比表面；
BJH法孔容孔徑分布 MK-plate法(平行板模型)孔容孔徑分布；
D-R法微孔分析 t-plot法(Boder)微孔分析；
H-K法(Original)微孔分析 MP法(Brunauer) 微孔分析；
DFT孔徑分析; 真密度測(cè)試、粒度估算報(bào)告；
具有IASTL理論模型 吸附/脫附報(bào)告模型
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